廠騁慚-1邁克爾遜干涉儀 儀器介紹： 采用平臺式設計，便于在光路中加入被研究物質。可用于高等學校物理光學實驗課教學，觀察等傾干涉、等厚干涉和白光干涉、測定單色光波長，鈉黃雙線波長差，透明介質薄片和空氣折射率等。

廠騁慚-2邁克爾遜和法布里兩用干涉儀 儀器介紹： 觀察各種干涉現象：等傾干涉、等厚干涉、白光干涉；測定單色光波長、透明介質薄片厚度、鍍膜厚度和空氣折射率；法布里－珀羅裝置、觀察多光束干涉銳環，測定鄰近光譜線間的波長差，觀測光譜線的精細結構。

廠騁慚-3精密干涉儀 儀器介紹： 可開展經典的邁克耳遜干涉，法布里-干涉和泰曼-格林干涉實驗。儀器設計精巧，一體化結構能大大減少實驗調整時間，提高實驗效率，同時所有結構件固定在厚重小平臺上，能有效的防止震動對實驗的影響。邁克耳遜，法布里-及泰曼—格林三種模式之間可以方便地轉換，實驗內容豐富，操作簡潔，結果精確。

廠騁翱-20壓電陶瓷特性研究實驗儀 儀器介紹： 本實驗以邁克耳遜干涉儀為基礎，采用激光干涉方法，對壓電陶瓷的壓電特性進行觀察和研究，并可獲得干涉光強的分布，從而進一步理解邁克耳遜原理，掌握壓電陶瓷的特性和微小位移的測量手段。

廠騁擱-1熱膨脹實驗裝置 儀器介紹： 該儀器采用電熱法加熱，利用金屬試樣的線膨脹帶動平面鏡，邁克耳遜干涉光路因光程差變化導致干涉條紋變化，測出試樣的長度變化量，進而測得線膨脹系數。與蒸汽加熱-光杠桿等方法相比，具有體積小，試樣短，功耗小，準確度高的優點。

奧廠慚-25邁克爾遜干涉儀 產物介紹 平板式干涉儀。觀察光的干涉現象（等厚條紋、等傾條紋、白光彩色條紋），測定單色光波長，測定光源和濾光片相干長度、配法布里─珀羅系統觀察多光束干涉現象

廠嘗闖-1雙棱鏡干涉實驗儀 導軌：鋁制導軌，長1000mm 光源：半導體激光器，鈉燈或白光光源可選 狹縫：0-2mm可調，帶二維調節 菲涅爾雙棱鏡：39mm×29mm×3mm 銳角30ˊ±1ˊ 測微目鏡：放大率15倍，測量范圍8cm 像屏：白色像屏

奧筆竄-濱濱濱塞曼效應實驗儀（智能型） 1、永磁鐵 磁感應強度B＞1.0T，以實際測定為準 2、F-P標準具 通光口徑φ40mm 空氣隙石英間隙2 mm 中心波長546.1nm. 分辨能力λ/ dλ≥2×105 高反射帶寬100nm 3、干涉濾光片 中心波長546.1 nm 透射帶寬≤10 nm 峰值透過率≥55%

奧騁竄-濱濱礎光強分布測定儀 單縫、單絲、雙縫、多縫等衍射、干涉圖形的一維光強分布測定；小孔、小屏、矩孔、雙孔、光柵和正交光柵等的衍射、干涉現象演示實驗；偏振光實驗光強變化的測定；驗證馬呂斯定律.1.導軌長度:1000mm .2.半導體激光器:配置精密二維調整架，波長635nm，功率3mv.

闖頒頓3讀數顯微鏡 產物介紹 可作長度測量，也可作觀察使用。可置水平和垂直位置，能搭成各種測試裝置。 產物配置 主要技術指標要求：1、顯微鏡放大倍率為30倍，工作距離54.06mm，視場直徑4.8mm；2、測量范圍：縱向50mm，小讀數0.01mm,升降方向40mm，小讀數0.1mm；